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MP-0D를 사용한 아연
도금 두께 측정 |
파라미터를 입력하기
위한 키보드 |
프린터와 연결된 MP-0D |
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센서가 내장된 일체형 |
소형, 경량 (165 그램) |
자동 On/Off 기능 |
2 포인트 calibration |
통계 기능 |
데이터를 프린터나 PC로 출력 |
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Isoscope MP0D : 와류
유도 방식으로서 자성체가 아닌
전도체 위의 비전도체 코팅 두께 측정.
예 : 알류미늄, 구리, 아연, 황동이나 은,
금과 같은 전도체 위의 페인트, 에나멜, 세라믹, 종이,
애노다이징과 같은 비전도체 피막의 두께 측정. (자성체 제외)
측정 범위 : 0 ~ 1,000
μm |
Permascope MP0D : 자기
유도 방식으로서 자성체 위의
비자성체 코팅이나 도금 두께 측정.
예 : 스틸 위의 페인트, 플라스틱, 고무,
에나멜, 인, 아연, 주석, 구리, 크롬, 세라믹, 파우더,
종이 등
비자성체인 도금이나 도막의 두께 측정. (니켈 제외)
측정 범위 : 0 ~
1,500 μm |
Dualscope MP0D : 자기 유도 및 와류 유도 방식 겸용으로서
위의 두 가지 모두를 측정. |
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Fischer사의 다양한 센서와 연결 사용 가능 |
크고 밝은 LCD 표시 |
센서 자동 인식 |
키보드 잠금 기능 |
4분간 사용하지 않으면 자동 전원 차단 |
μm와 inch 단위 변환 기능 |
다양한 메시지 표시 |
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Isoscope MP-10 : 와류
유도 방식으로서 자성체가 아닌
전도체 위의 비전도체 코팅 두께 측정.
예 : 알류미늄, 구리, 아연, 황동이나 은,
금과 같은 전도체 위의 페인트, 에나멜, 세라믹, 종이,
애노다이징과 같은 비전도체 피막의 두께 측정. (자성체 제외)
측정 범위는 센서에 따라
정해짐.
"센서 정보" 참조 |
Deltascope MP-10 : 은
자기
유도 방식으로서 자성체 위의
비자성체인 코팅이나 도금 두께 측정.
예 : 스틸 위의 페인트, 플라스틱, 고무,
에나멜, 인, 아연, 주석, 구리, 크롬, 세라믹, 파우더,
종이 등
비자성체인 도금이나 도막의 두께 측정. (니켈 제외)
측정 범위는 센서에 따라
정해짐.
"센서 정보" 참조 |
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| click to enlarge |
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자성체 위의 비자성체 및 전도체 위의 비전도체 두께 측정 |
센서 자동 인식 |
센서를 검사물에 대면 자동 측정 |
최소값, 최대값, 평균값, 측정회수, 표준 편차, 날짜,
시간 표시 |
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Dualscope MP-20 : 자기
유도 / 와류 유도 방식 겸용으로서
스틸 위의
페인트, 플라스틱, 고무, 에나멜, 인, 아연, 주석, 구리,
크롬, 세라믹, 파우더, 종이 등
비자성체인
도금이나 도막의 두께 측정. (니켈 제외)
- 자기 유도 방식 모드에서 -
알류미늄, 구리,
아연, 황동이나 은, 금과 같은 전도체 위의 페인트,
에나멜, 세라믹, 종이, 애노다이징과
같은
비전도체 피막의 두께 측정. (자성체 제외)
- 와류 유도 방식 모드에서 -
측정 범위는 센서에 따라
정해짐.
"센서 정보" 참조 |
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 클릭하면 확대됨
스틸위에 클래딩된 SUS 두께 측정(3mm) |
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Isoscope MP-30 : 와류
유도 방식으로서 자성체가 아닌
전도체 위의 비전도체 코팅 두께 측정.
예 : 알류미늄, 구리, 아연, 황동이나 은,
금과 같은 전도체 위의 페인트, 에나멜, 세라믹, 종이,
애노다이징과 같은 비전도체 피막의 두께 측정. (자성체
제외)
측정 범위는 센서에 따라
정해짐.
"센서 정보" 참조 |
Deltascope MP-30 :자기
유도 방식으로서 자성체 위의
비자성체인 코팅이나 도금 두께 측정.
예 : 스틸 위의 페인트, 플라스틱, 고무,
에나멜, 인, 아연, 주석, 구리, 크롬, 세라믹, 파우더,
종이 등
비자성체인 도금이나 도막의 두께 측정. (니켈 제외)
측정 범위는 센서에 따라
정해짐.
"센서 정보" 참조 |
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밧데리 및 AC 사용 가능 |
자동 센서 인식 |
자동 재질 인식 |
바 그래프 표시 기능 |
자기 유도 방식 / 와류 유도
방식 사용 |
Fischer사의 모든 센서와 연결 |
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Dualscope MP-40 : 자기
유도 / 와류 유도 방식 겸용으로서
스틸 위의
페인트, 플라스틱, 고무, 에나멜, 인, 아연, 주석, 구리,
크롬, 세라믹, 파우더, 종이 등
비자성체인
도금이나 도막의 두께 측정. (니켈 제외)
- 자기 유도 방식 모드에서 -
알류미늄, 구리,
아연, 황동이나 은, 금과 같은 전도체 위의 페인트,
에나멜, 세라믹, 종이, 애노다이징과
같은
비전도체 피막의 두께 측정. (자성체 제외)
- 와류 유도 방식 모드에서 -
측정 범위는 센서에 따라
정해짐.
"센서 정보" 참조 |
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| Nickelscope |
자성체 위의 니켈 (아연,
구리) 두께 측정 |
| Cu-scope |
PCB 위의 copper 두께
측정
(0.8 ~ 1.8 mm) |
| Isoscope (Chrome) |
비철금속 위의 크롬
두께 측정
(3 ~ 500 μm) |
| Sigmascope |
금속의 전도도 측정 |
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| 자기 유도 센서 |
| 모
양 |
모
델 |
측정
범위 |
주문
번호 |
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EGAB1.3 |
0 - 2000 μm / 0 - 80
mils |
601-793 |
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EGABW1.3 |
0 - 2000 μm / 0 - 80
mils |
601-964 |
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EGABI1.3 - 150 |
0 - 1000 μm / 0 - 40
mils |
601-932 |
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EGB2 |
0 - 5 mm / 0 - 200
mils |
602-023 |
 |
EGA2H |
0 - 1500 μm / 0 - 60
mils |
602-121 |
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EKB10 |
0 - 8 mm / 0 - 320
mils |
602-225 |
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| 와류 유도 센서 |
| 모
양 |
모
델 |
측정
범위 |
주문
번호 |
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ETA3.3H |
0 - 1200 μm / 0 - 48
mils |
602-128 |
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EAW3.3 |
0 - 1200 μm / 0 - 48
mils |
602-025 |
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EAI3.3 - 150 |
0 - 800 μm / 0 - 32
mils |
602-026 |
 |
EA9 |
0 - 3.5 mm / 0 - 140
mils |
601-965 |
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EA30 |
0 - 20 mm / 0 - 800
mils |
602-027 |
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| 자기 유도 / 와류 유도
겸용 센서 |
| 모
양 |
모
델 |
측정
범위 |
주문
번호 |
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ED10 |
NF/Fe 0 - 1100 μm / 0
- 44 mils
Iso/NF 0 - 800 μm / 0 - 32 mils |
602-796 |
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