| A
|
| |
Acoustic
Emission Consulting, Inc. : À½Çâ
¹æÃâ¿¡ °üÇÑ ÄÁ¼³ÆÃ Àü¹® |
Acqiris : °íÁÖÆÄ A/D º¸µå¸¦ »ý»êÇÏ´Â ¾÷ü |
Agfa NDT X-ray films. : ¹æ»ç¼± °Ë»ç¿¡
»ç¿ëµÇ´Â °ø¾÷¿ë Çʸ§ »ý»ê |
AMDATA NDE Technology : ¹Ì±¹ÀÇ È¸»ç·Î¼
ÃÊÀ½ÆÄ È»ó °Ë»ç ½Ã½ºÅÛÀ» »ý»ê |
American NDT Products, Inc. :
ºñÆÄ±« °ü·Ã °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ Á¦ÀÛ |
American Society for Nondestructive Testing (ASNT) :
¹Ì±¹ ºñÆÄ±« °Ë»ç Çùȸ |
American Stress Technologies, Inc. :
ÃÊÀ½ÆÄ¿¡ ÀÇÇÑ ½ºÆ®·¹½º °Ë»ç Àåºñ »ý»ê
|
ANDEC : ÃÊÀ½ÆÄ ¿Í·ù °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ ¹× ¼¾¼, ÄÜÅ©¸®Æ®
°Ë»ç Àåºñ »ý»ê |
Andrew NDT Engineering : ¿Í·ù °Ë»ç
Àåºñ ¹× ¼¾¼ Á¦ÀÛ |
Anser Inc : ÄùÀÌ»ç ¸ðµ¨ÀÇ ÃÊÀ½ÆÄ Æ©ºê °Ë»ç
½Ã½ºÅÛ ¹× À½Çâ¿¡ ÀÇÇÑ ÆÄÀÌÇÁ »óŸ¦ °Ë»çÇϱâ À§ÇÑ Àåºñ »ý»ê
|
Applied Test Systems, Inc : ÃÊÀ½ÆÄ
¹× ¿Í·ù °Ë»ç¸¦ À§ÇÑ ºñ±³ ½ÃÇèÆí, EDM Notch Á¦ÀÛ
|
Ashtead Technology, Inc. : ¹Ì±¹ÀÇ
ºñÆÄ±« °Ë»ç Àåºñ ·»Å» Àü¹® ȸ»ç |
Automated Inspection
Systems, Inc. : ÃÊÀ½ÆÄ
È»ó ½Ã½ºÅÛ Á¦ÀÛ |
Automation USA : ÄÚÆÃ µÎ²² ÃøÁ¤±â ÆÇ¸Å
|
| |
| B
|
Balteau X-Ray S.A.: °ø¾÷¿ë ÈÞ´ë ¹× ¼³Ä¡Çü
X-ray Àåºñ Á¦ÀÛ |
Bio-Imaging
Research, Inc. : »ê¾÷ü¿¡¼ »ç¿ëµÇ´Â CT
¹× µðÁöÅÐ X-ray Àåºñ »ý»ê |
British
Institute of Non-Destructive Testing :
¿µ±¹ÀÇ ºñÆÄ±« °Ë»ç Çùȸ |
Bright Technical Services Inc. :
ºñÆÄ±« °Ë»ç ¿ë¿ª |
Bycotest
: ħÅõ ¹× ÀںР°Ë»ç¸¦ À§ÇÑ ¿ëǰ, Ŭ¸®³Ê, Àåºñ »ý»ê
|
|
|
| C
|
Cabbage
Cases, Inc. : Àåºñ ÄÉÀ̽º »ý»ê¾÷ü
|
Canadian
Society for Nondestructive Testing :
Ä«³ª´ÙÀÇ ºñÆÄ±« °Ë»ç Çùȸ |
CD
International Technology, Inc. :
ÃÊÀ½ÆÄ ŽÃËÀÚ »ý»ê¾÷ü |
Centurion
NDT, Inc. : Magnaflux¿¡¼ ºÐ¸®µÈ ȸ»ç·Î¼
Àüµµµµ ÃøÁ¤±â, ¿Í·ù °Ë»ç Àåºñ ¹× ÃÊÀ½ÆÄ µÎ²²
ÃøÁ¤±â¸¦
»ý»ê |
Class
Instruments : ¿µ±¹ÀÇ È¸»ç·Î ÄÚÆÃ µÎ²² ÃøÁ¤±â,
ÃÊÀ½ÆÄ µÎ²² ÃøÁ¤±â µîÀ» »ý»ê |
CMI
International : ÄÚÆÃ µÎ²² ÃøÁ¤°ú °ü·ÃµÈ
¿©·¯ °¡Áö Àåºñ¸¦ »ý»ê |
Conam
Inspection : ºñÆÄ±« Àç·á °Ë»ç¸¦ Æ÷ÇÔÇÑ ±¤¹üÀ§ÇÑ
¿ë¿ª °Ë»ç ¾÷ü |
Controle Mesure Systemes:
ÇÁ¶û½ºÀÇ ÈÞ´ë¿ë ¹× ¼³Ä¡ÇüÀÇ ÀںРŽ»ó ÀåÄ¡ »ý»ê ¾÷ü |
CoreStar
International Corporation : ¿Í·ù
Æ©ºê °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ Á¦Á¶ |
CSC Force Measurement :
force¿Í torque¸¦ ÃøÁ¤Çϱâ À§ÇÑ Àåºñ Á¦ÀÛ
|
Curtis
Industries : EDM notch ¹× Æò¸é Àú¸é
ȦÀ» Á¤¹Ð °¡°øÇØÁÖ´Â ¾÷ü |
CyberLogic,
Inc : ÃÊÀ½ÆÄ ½ÇÇè simulation°ú °ü·ÃµÈ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î
Á¦ÀÛ |
Cygnus
Insturments : ´ÙÁß ¿¡ÄÚ ¹æ½Ä¿¡ ÀÇÇÑ ÃÊÀ½ÆÄ
µÎ²² ÃøÁ¤±â Á¦Á¶¾÷ü.
ÀÌ
¹æ½ÄÀ» ÀÌ¿ëÇÏ¸é ÆäÀÎÆ® ÄÚÆÃÀ̳ª ³ìÀÇ µÎ²²¸¦ Á¦¿ÜÇÑ ¼ø¼öÇÑ ±Ý¼ÓÀÇ µÎ²²¸¦ ÃøÁ¤ÇÒ ¼ö ÀÖÀ½. |
|
|
| D
|
Dakota Ultrasonics : ¹Ì±¹ California¿¡
Àִ ȸ»ç·Î¼ ÈÞ´ë¿ë ÃÊÀ½ÆÄ µÎ²² ÃøÁ¤±â, Á¤¹Ð¿ë ÃÊÀ½ÆÄ
µÎ²²
ÃøÁ¤±â, ÃÊÀ½ÆÄ º¼Æ® Ãà·Â ÃøÁ¤±â¸¦ »ý»ê |
Dapco Industries, Inc : ÃÊÀ½ÆÄ¿¡ ÀÇÇÑ
½Ç¸°´õ, ·¹ÀÏ °Ë»ç ½Ã½ºÅÛÀ» »ý»ê |
Deltatest by Bengt Tornblom :
½º¿þµ§¿¡ Àִ ȸ»ç·Î¼ Ç¥¸é °Ë»ç¿ë ¿Í·ù °Ë»ç Àåºñ ¹× ±Ý¼Ó ŽÁö±â Ãë±Þ
|
DeFelsko
Corporation : ÀÚ±â À¯µµ ¹æ½Ä, ¿Í·ù À¯µµ
¹æ½Ä, ÃÊÀ½ÆÄ ¹æ½Ä µî ´Ù¾çÇÑ Á¾·ùÀÇ ÄÚÆÃ µÎ²² ÃøÁ¤±â¸¦ »ý»ê |
DETEK, Inc. : ºñÆÄ±« °Ë»ç Àåºñ ¹× ¼Ò¸ðǰ
°ø±Þ¾÷ü |
Deutsche
Gesellschaft fur Zerstorungsfreie Prufung e.V. :
µ¶ÀÏÀÇ ºñÆÄ±« °Ë»ç Çùȸ
(German
Society of Non-Destructive Testing (DGZfP))
|
DeW
Systems Ltd. : ÀÚºÐ, ÃÊÀ½ÆÄ, ¿Í·ù¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ
ÀÚµ¿ °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶¾÷ü,
ÀÚµ¿Â÷ÀÇ
ÇǽºÅæ ¸µ °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶ |
Diagnostic
Sonar Ltd.(DSL) : ¿µ±¹¿¡ Àִ ȸ»ç·Î¼
ÃÊÀ½ÆÄ B ½ºÄµ ¾î·¹ÀÌ È»ó °Ë»ç ¹× ÃÊÀ½ÆÄ °ü·Ã Àåºñ
»ý»ê/ÆÇ¸Å
|
Digiray
Corporation : µ¶Æ¯ÇÑ ¹æ½ÄÀÇ µðÁöÅÐ X-ray
Àåºñ »ý»ê |
Digital Wave Corporation : Modal
AE ºÐ¼® ±â¹ýÀ» ÀÌ¿ëÇÑ µðÁöÅÐ À½Çâ ¹æÃâ °Ë»ç Àåºñ
Á¦Á¶
¹× À§Å¹ ¿¬±¸. AE¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ ÄÜÅ©¸®Æ® ºÐ¼® ½Ã½ºÅÛ Á¦ÀÛ |
Dynamic
Resonance Systems : ÃÊÀ½ÆÄ¿¡ ÀÇÇÑ °ø¸í
°Ë»ç ½Ã½ºÅÛ Á¦Á¶ |
|
|
| E
|
Eastman Kodak Company : ÄÚ´Ú Çʸ§
¹× °ü·Ã Àåºñ »ý»ê °ø±Þ |
Edax, Inc : XRF¿¡ ÀÇÇÑ ÇÕ±Ý ºÐ¼®±â »ý»ê |
Eddy Current Technology, Inc. :
¿±³È¯±â Æ©ºê ¹× ÆÄÀÌÇÁ °Ë»ç¸¦ À§ÇÑ ÈÞ´ë¿ë ¿Í·ù °Ë»ç Àåºñ »ý»ê. |
EMAT Ultrasonics : EAMT ¼¾¼ ¹× ÈÞ´ë¿ë
Circumferential Guided Wave Àåºñ »ý»ê |
Etalon
Inc. : ÀϹÝÇü, ¼öħÇü, ¿¡¾îÇü, ÀÇ·á¿ë µîÀÇ ¿©·¯
°¡Áö Á¾·ùÀÇ ÃÊÀ½ÆÄ ŽÃËÀÚ »ý»ê |
Everest VIT : ¿ø°Ý ½Ã°¢ °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ »ý»ê
|
Everest
Imaging : ¿ø°Ý ½Ã°¢ °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ »ý»ê
|
|
|
| F
|
Fisher Technology : Àüµµµµ ÃøÁ¤±â, ÄÚÆÃ µÎ²² ÃøÁ¤±â
¹× Àç·á ºÐ¼®±â µîÀ» »ý»êÇÏ´Â ´Ù±¹Àû ±â¾÷
|
FlawTech,
Inc. : ÃÊÀ½ÆÄ, ¹æ»ç¼±, ÀںРŽ»ó °ü·Ã °áÇÔ ½ÃÇèÆí
»ý»ê |
FLIR
Systems : Àû¿Ü¼±À» ÀÌ¿ëÇÑ ¿È»ó Ä«¸Þ¶ó »ý»ê
|
FOERSTER
: ¿Í·ù¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ ÈÞ´ë¿ë ¹× ¼³Ä¡Çü °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ Á¦ÀÛ
|
fomafilm.com
: ÀÎÅͳÝÀ» ÀÌ¿ëÇÑ x-ray Çʸ§ ÆÇ¸Å |
Force Institute : ÃÊÀ½ÆÄ P-scanÀ»
ÀÌ¿ëÇÑ ±¸Á¶¹°ÀÇ ºÎ½Ä »óÅ ¹× °áÇÔ °Ë»ç¸¦ À§ÇÑ È»ó ½Ã½ºÅÛ Á¦Á¶
|
Fuji
NDT Systems : °ø¾÷¿ë x-ray Çʸ§ »ý»ê
|
|
|
| G
|
Genesys Instruments, Inc. :
³»½Ã°æ °ü·Ã Á¦Ç° Á¦Á¶ |
Geophysical Survey Systems, Inc.
(GSSI) : ·¹ÀÌ´Ù¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ ÁöÇÏ ¸Å¼³¹° ŽÁö ½Ã½ºÅÛ
|
Gilardoni
SpA. : ÀÌÅ»¸®¾ÆÀÇ ºñÆÄ±« °Ë»ç Àåºñ ȸ»ç·Î ÃÊÀ½ÆÄ
Ž»ó±â,
µÎ²²
ÃøÁ¤±â µî »ý»ê |
Guided
Ultrasonics, Ltd. : À¯µµÃÊÀ½ÆÄ °Ë»ç Àåºñ
Wavemaker »ý»ê |
| |
| H
|
Hannam Techno Co., Ltd. : ±¹³»ÀÇ
ºñÆÄ±« °Ë»ç ¿ë¿ª¾÷ü |
Harfang Microtechniques, Inc. :
ÃÊÀ½ÆÄ B ½ºÄµ ¾î·¹ÀÌ È»ó ½Ã½ºÅÛ »ý»ê
|
Hellier : ºñÆÄ±« °Ë»ç °ü·Ã ±³À° ±â°ü
|
Hitachi Finetech : È÷´ÙÂî Áß±âÀÇ ÀÚȸ»ç·Î
ÃÊÀ½ÆÄ Ž»ó±â, ÃÊÀ½ÆÄ º¼Æ® Ãà·Â ÃøÁ¤±â, ½ºÆý ¿ëÁ¢ °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ,
ÃÊÀ½ÆÄ
È»ó ½Ã½ºÅÛ, ÃÊÀ½ÆÄ Çö¹Ì°æ µîÀ» Á¦ÀÛ |
Hobart
Institute of Welding Technology :
ÀÚºÐ, ħÅõ, À°¾È °Ë»ç¸¦ À§ÇÑ ±³À° °úÁ¤ Á¦°ø
|
Hocking NDT : ¿Í·ù °Ë»ç Àåºñ ¹× ¼¾¼ »ý»ê
|
HYTEC
Inc. : 3D CT ¹× Ȧ·Î±×·¡ÇÇ¿¡ ÀÇÇÑ ÀÜ·ù ½ºÆ®·¹½º
ÃøÁ¤ ½Ã½ºÅÛ Á¦ÀÛ |
|
|
| I
|
ibg NDT Systems Corporation :
¿Í·ù ¼±º° ½Ã½ºÅÛ Ãë±Þ |
Imaging
Supersonic Laboratories : ÀϺ»¿¡
Àִ ȸ»ç·Î¼ ÃÊÀ½ÆÄ ŽÃËÀÚ, ÃÊÀ½ÆÄ °¡½ÃÈ ÀåÄ¡,
ÃÊÀ½ÆÄ
ÆÞ½º ¹ß»ý/¼ö½Å Àåºñ µîÀ» »ý»ê |
Imasonic
: ÇÁ¶û½ºÀÇ ÃÊÀ½ÆÄ ¼¾¼ Àü¹® Á¦Á¶¾÷ü
|
Imperium,
Inc. : ÃÊÀ½ÆÄ Ä«¸Þ¶ó »ý»ê
|
Industrial Control Machines sa :
º§±â¿¡ÀÇ È¸»ç·Î 160-360 kVÀÇ ÈÞ´ë¿ë x-ray ¹ß»ý ÀåÄ¡ ¸¦ Á¦Á¶
|
Isonic
: ÇÁ¶û½ºÀÇ Å½ÃËÀÚ Á¦Á¶»ç·Î piezocomposite¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ »ê¾÷¿ë ¹×
ÀÇ·á¿ë ¼¾¼ Á¦ÀÛ , ÁÖ·Î array ŸÀÔ
|
Imperium,
Inc. : ÃÊÀ½ÆÄ Ä«¸Þ¶ó¿¡ ÀÇÇÑ ½Ç½Ã°£ C-scan
È»ó ½Ã½ºÅÛ, Array ¼¾¼¸¸ ±¸ÀÔÇÏ´Â °Íµµ °¡´É
|
Impact-Echo Instruments, LLC :
ÀÓÆÑÆ® ¿¡ÄÚ¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ ÄÜÅ©¸®Æ® ±¸Á¶¹° °Ë»ç ¹× ºÐ¼® Àå ºñ Á¦ÀÛ
|
Innov-X
Systems, Inc. : X-ray Æ©ºê¸¦ »ç¿ëÇÑ
Çձݺм®±â »ý»ê |
Inspection
Port Systems : ¹Ì±¹ ·çÁö¾Ö³ª¿Í ÅØ»ç½º¿¡ ÀÖ´Â
ȸ»ç·Î °Ë»ç Æ÷ÀÎÆ® ½Äº° Ç¥½Ã ¹× º¸È£ Æ÷Æ®¸¦ °ø±Þ
|
Inspection
Software Limited : ¿Í·ù °Ë»ç ¹× ¼®À¯
ÈÇп¡¼ÀÇ °Ë»ç¿Í °ü·ÃµÈ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Á¦ÀÛ
|
Inspection
Technologies, Inc. : ºñÆÄ±« °ü·Ã Àåºñ
°ø±Þ¾÷ü |
Instrument Technology : ½Ã°¢ °Ë»ç¿Í
°ü·ÃµÈ Àåºñ Ãë±Þ |
Integrated
Material Control Engineering NV: º§±â¿¡
Àִ ȸ»ç·Î Áøµ¿ °ø¸í °ø¸í Á֯ļö¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ Àç·á °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶ |
International Light, Inc. : UV
¹× °¡½Ã±¤¼± ÃøÁ¤¿ë radiometer ¹× photometer
|
Iowa
State University : ¹Ì±¹ ¾ÆÀÌ¿À¿Í ´ëÇб³ÀÇ
ºñÆÄ±« °ü·Ã »çÀÌÆ® |
Iris
Inspection Services : ¿±³È¯±â Æ©ºê
°Ë»ç¸¦ À§ÇÑ ÃÊÀ½ÆÄ Æ©ºê °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ Á¦Á¶ ¹× ¿ë¿ª °Ë»ç,
¿Í·ù Æ©ºê °Ë»ç ¹× ÅÊÅ© Àú¸é
°Ë»ç ¿ë¿ª ¼ºñ½º
|
|
|
| J
|
JC Technical Consultants, Inc. :
ÃÊÀ½ÆÄ ÆÞ½º ¹ß»ý/¼ö½Å Àåºñ ¹× ½ºÄ³³Ê
|
JFE Advantech : ÀϺ» JFE steelÀÇ
ÀÚȸ»ç·Î ÃÊÀ½ÆÄ µÎ²² ÃøÁ¤±â, Áøµ¿ ÃøÁ¤ Àåºñ ¹× ½Ã½ºÅÛÀ» »ý»ê (îñ : Kawatetsu Advantech)
|
JSR Ultrasonics : ¹Ì±¹ÀÇ ÃÊÀ½ÆÄ ÆÞ½º ¹ß»ý/¼ö½Å
Àåºñ Á¦Á¶¾÷ü. 35 MHz Àåºñ¿Í 200, 500 MHzÀÇ ´Ù¾çÇÑ ¸ðµ¨
»ý»ê |
| |
| K
|
Karl
Deutsch : µ¶ÀÏÀÇ ºñÆÄ±« °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶¾÷ü·Î¼
ÃÊÀ½ÆÄ Ž»ó±â, ÄÚÆÃ µÎ²² ÃøÁ¤±â, ÃÊÀ½ÆÄ µÎ²² ÃøÁ¤±â,
Å©·¢ ±íÀÌ
ÃøÁ¤±â, ŽÃËÀÚ, ÀںРŽ»ó ÀåÄ¡ ¹× ÀÚµ¿ ÃÊÀ½ÆÄ °Ë»ç ½Ã½ºÅÛÀ» Á¦ÀÛ |
Karta Technologies, Inc. : CD-ROM¿¡
ÀÇÇÑ ºñÆÄ±« ±³À° ±â°ü |
Keramos
: ÃÊÀ½ÆÄ ŽÃËÀÚ¸¦ À§ÇÑ ¾ÐÀü ¼ÒÀÚ »ý»ê |
K.
J. Law Engineers, Inc. : ¿Í·ù °Ë»ç
¹× ¼±º° Àåºñ Á¦ÀÛ |
Krautkramer
: µ¶Àϰú ¹Ì±¹¿¡ »ý»ê °øÀåÀ» µÎ°í ÀÖ´Â ºñÆÄ±« °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶¾÷ü·Î¼ ÃÊÀ½ÆÄ
Ž»ó±â,È»ó ½Ã½ºÅÛ, ÄÚÆÃ µÎ²² ÃøÁ¤±â, ÃÊÀ½ÆÄ µÎ²² ÃøÁ¤±â, Å©·¢ ±íÀÌ ÃøÁ¤±â, °æµµ±â, ÄÜÅ©¸®Æ® °Ë»ç Àåºñ ¹×
ÀÚµ¿ ÃÊÀ½ÆÄ °Ë»ç ½Ã½ºÅÛÀ» »ý»ê
|
|
|
| L
|
Labino
: ÀںР¹× ħÅõ °Ë»ç¸¦ À§ÇÑ Àڿܼ± ·¥ÇÁ |
Laser Technology : Ææ½Çº£´Ï¾Æ¿¡ Àִ ȸ»ç·Î¼
Shearographic ¹× µðÁöÅРȦ·Î±×·¡ÇÇ¿¡ ÀÇÇÑ
ºñÆÄ±« °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶ ¹× °ü·Ã Àåºñ¿¡ ÀÇÇÑ ¿ë¿ª ¼ºñ½º Á¦°ø |
Lasson Technologies : EMF ¹× Two
Wave Mixing ¹æ½Ä¿¡ ÀÇÇÑ ·¹ÀÌÀú ÃÊÀ½ÆÄ °Ë»ç Àåºñ
|
Lavender
: ºñÆÄ±« ±³À° ¹× ½ÃÇè ÇÁ·Î±×·¥ |
Leak
Testing Specialists : ´©Ãâ °Ë»ç¿Í °ü·ÃµÈ
½ÃÇè ¹× ±³À° |
LIXI,
Inc. : X-ray Àåºñ Á¦Á¶¾÷ü, ¸®¾ó ŸÀÓ ÆÄÀÌÇÁ
½ºÄÉÀÏ °Ë»ç Àåºñ |
|
|
| M
|
Magnaflux
: ÀںР¹× ħÅõ °Ë»ç¿¡ »ç¿ëµÇ´Â °ü·Ã¿ëǰ Á¦Á¶ ÆÇ¸Å
|
Magnetic Analysis Corp. : ¿Â¶óÀÎ
°Ë»ç¿ë ¿Í·ù, ÃÊÀ½ÆÄ, ÀںРÀåºñ ¹× ½Ã½ºÅÛ »ý»ê
|
Magwerks : ÈÞ´ë¿ë ÀںРŽ»ó Àåºñ Á¦Á¶ ¹× ¼ºñ½º
|
Marktec Corporation : ÀϺ» ȸ»ç·Î ħÅõ
Ž»ó, ¿Í·ù °Ë»ç,ÀںР°Ë»ç °ü·Ã Á¦Ç° »ý»ê
|
Matec Instrument Companies : ¹Ì±¹
¸Å»çÃò¼¼Ã÷¿¡ Àִ ȸ»ç·Î ÃÊÀ½ÆÄ È»ó ½Ã½ºÅÛ, ÀÚµ¿È ½Ã½ºÅÛÀ» Á¦ÀÛ
|
Meraster
S.A/ Zawada NDT : Æú¶õµåÀÇ È¸»ç·Î¼ ¿ÍÀ̾î
·ÎÇÁ °Ë»ç Àåºñ ¹× ¼¾¼¸¦ Á¦Á¶, ÃÖ±Ù¿¡ Zawada NDT·Î
À̸§À» ¹Ù²Ù¾úÀ½ |
Metrison
: Æú¶õµå ȸ»ç·Î ÃÊÀ½ÆÄ µÎ²² ÃøÁ¤±â, ÄÚÆÃ µÎ²² ÃøÁ¤±â µîÀ» »ý»ê (îñ:Inco-veritas)
|
MFE
Enterprises, Inc. : ÀÚ¼Ó ´©¼³¹ý¿¡ ÀÇÇÑ
ÅÊÅ© ¹Ù´Ú °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ »ý»ê |
Mikron
Instrument Company, Inc. : Àû¿Ü¼±
Ä«¸Þ¶ó ¹× °ü·Ã Á¦Ç° »ý»ê |
M.K.C
Korea : ±¹³»ÀÇ ºñÆÄ±« °Ë»ç Àåºñ °ø±Þ¾÷ü, À¯µµÆÄ
°Ë»ç¿ë ¼¾¼, ÃÊÀ½ÆÄ ¼¾¼ ¹× ÄÜÅ©¸®Æ® °Ë»ç Àåºñ »ý»ê |
Modsonic
Instruments mfg. : Àεµ¿¡ Àִ ȸ»ç·Î
ÃÊÀ½ÆÄ Ž»ó±â, µÎ²² ÃøÁ¤±â »ý»ê |
MQS
: °¢Á¾ ºñÆÄ±« °Ë»ç °ü·Ã ¼ºñ½º |
MX Industrial Distributors : ºñÆÄ±«
°Ë»ç Àåºñ °ø±Þ ¹× Àåºñ calibration ¼ºñ½º
|
|
|
| N
|
NDTnet
- Online Journal of NDT & Ultrasonics : °¢Á¾
ºñÆÄ±« °ü·Ã Á¤º¸°¡ ¸ð¿© ÀÖ´Â °÷ ºñÆÄ±« °ü·Ã ȸ»ç
,Àü½Ãȸ, ÃÖ±Ù ³í¹® µî¿¡ ´ëÇÑ Á¤º¸¸¦ º¼ ¼ö ÀÖÀ½
|
NDT
International, Inc. : À½Çâ ¹æÃâ ¹×
ÃÊÀ½ÆÄ Ž»ó±â, µÎ²² ÃøÁ¤±â »ý»ê ¹× °ø±Þ
|
NDT Testing
Group : ºñÆÄ±« °Ë»ç ¿ë¿ª ¼ºñ½º
|
NDT Seals : °Ë»ç Æ÷ÀÎÆ® ½Äº°, Ç¥½Ã ¹× º¸È£¸¦
À§ÇÑ Ç÷¯±×, ¶óº§ Á¦Á¶ |
NDT Solutions, Ltd. : ´Ù¾çÇÑ Á¾·ùÀÇ
ÃÊÀ½ÆÄ °ü·Ã Á¦Ç° »ý»ê |
NDT
Supply: ÈÞ´ë¿ë Àåºñ¸¦ ¹Ì±¹ ³»¿¡¼ °ø±ÞÇÏ´Â ¾÷ü, ¿Ü±¹À¸·Î´Â ¼öÃâÇÏÁö ¾ÊÀ½
|
NDT
Systems : DuPont NDT¸¦ ÀμöÇÑ È¸»ç·Î
ÃÊÀ½ÆÄ Ž»ó±â, µÎ²² ÃøÁ¤±â, È»ó ½Ã½ºÅÛÀ» »ý»ê
|
NDT Technologies : ´Ù¾çÇÑ Á¾·ùÀÇ ¿ÍÀ̾î
·ÎÇÁ °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ ¹× Àåºñ¸¦ »ý»ê |
NDT
World Wide (Ricoh) : ÀϺ»ÀÇ ÇÑ ±³¼ö°¡
¸¸µç »çÀÌÆ®·Î¼ ºñÆÄ±«¿Í °ü·ÃµÈ Á¤º¸ Á¦°ø
|
New
Zealand Non Destructive Testing Association (NDTA) :
´ºÁú·£µå ºñÆÄ±«°Ë»çÇùȸ
|
Newco
: ¹Ì±¹ ³²µ¿ºÎÀÇ ºñÆÄ±« °ü·Ã Àåºñ °ø±Þ ¹× ¼ºñ½º ¾÷ü |
North
Star Imaging, Inc. : ¹Ì±¹ ºÏºÎÀÇ ºñÆÄ±«
°ü·Ã Àåºñ ¹× ¼Ò¸ðǰ °ø±Þ¾÷ü |
NTB
GmbH : »ê¾÷¿ë µðÁöÅÐ X-ray °Ë»ç Ä«¸Þ¶ó
|
Nuclear
Associates : ¹æ»ç¼± °Ë»ç Àåºñ ¹× ¼Ò¸ðǰ
|
NUSON Inspection Services : ÃÊÀ½ÆÄ
°Ë»ç ¹× µ¥ÀÌÅÍ ÃàÀû ½Ã½ºÅÛ, ¼öħ °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ Á¦ÀÛ
|
|
|
| O
|
Ono
Sokki Technology, Inc. : ÀϺ»ÀÇ È¸»ç·Î
Áøµ¿ °ü·Ã Á¦Ç° »ý»ê |
Olympus Indutrial : º¸¾î½ºÄÚÇÁ °Ë»ç ¹×
ºñµð¿À °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ |
Optel Ltd. : Æú¶õµåÀÇ È¸»ç·Î ÃÊÀ½ÆÄ °ü·Ã Àåºñ
Á¦Á¶ |
|
|
| P
|
Panametrics : ¹Ì±¹ MA¿¡Àִ ȸ»ç·Î¼ ÃÊÀ½ÆÄ
Ž»ó±â, µÎ²²ÃøÁ¤±â, ŽÃËÀÚ ¹× UT Pulser/Receiver »ý»ê
|
Parker Research Corporation :
ÈÞ´ë¿ë ÀںРŽ»ó±â ¹× ¿Í·ù ±³À° Àåºñ Á¦Á¶
|
PH Tool : EDM ºñ±³ ½ÃÇèÆí ¹× Æò¸é Àú¸é Ȧ,
°¢ ÀçÁú º° ASME, ASTM, IIW ¹× Navyships ½ÃÇè ºí·Ï
|
Phoenix Inspection Systems Limited :
¿µ±¹ÀÇ È¸»ç·Î ÀÚµ¿ ÃÊÀ½ÆÄ °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ, Åͺó °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ µî ¿øÀڷ°ú °ü·ÃµÈ
°Ë»ç Àåºñ Á¦ÀÛ |
Phynix : µ¶ÀÏ¿¡ Àִ ȸ»ç·Î ÄÚÆÃ µÎ²² ÃøÁ¤±â
»ý»ê ¹× ±âŸ Àåºñ ÆÇ¸Å |
Physical Acoustics Corporation (PAC) :
AE, ÃÊÀ½ÆÄ, ¿Í·ù °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶
|
PQNDT Inc : ºñÆÄ±« °ü·Ã Á¾»çÀÚ ¼Ò°³
|
PRI
Research and Development : ¿Í·ù¸¦
ÀÌ¿ëÇÑ È»ó °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶ |
Proto
Manufacturing, Ltd. : X-ray¿¡ ÀÇÇÑ
ÀÀ·Â ºÐ¼® Àåºñ »ý»ê |
Prueftechnik
AG : ·¹ÀÌÀú¿¡ ÀÇÇÑ Ãà Á¤·Ä Àåºñ, ÄÁµð¼Ç ¸ð´ÏÅ͸µ
|
Prueftechnik NDT GmbH : Æ©ºê, ¹Ù,
ºô·¿, ¿ÍÀ̾î, ÇÖ·Îµå °Ë»ç¸¦ À§ÇÑ ¿Í·ù °Ë»ç Àåºñ ¹× ¼¾¼ Á¦Á¶
|
|
|
| Q
|
Q-see man international : ºñÆÄ±«
°ü·Ã ÄÜÅ©¸®Æ® °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶¾÷ü |
Quasar
International, Inc. : ÃÊÀ½ÆÄ °ø¸í ¿¬±¸
¹× °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ »ý»ê |
Quality Network (QNET) : µ¶ÀÏ¿¡ ÀÖ´Â
ºñÆÄ±« °Ë»ç Àåºñ ÆÇ¸Å¾÷ü·Î ÃÊÀ½ÆÄ Pulser / Receiver °ü·Ã Á¦Ç° Ãë±Þ
|
|
|
| R
|
Radiatronics NDT Inc.: ºñÆÄ±«°Ë»ç °ü·Ã
±â±â °ø±Þ, ±³À°, ¼ö¸® ¹× calibration ¾÷ü |
Radview Digital System, Inc.: µðÁöÅÐ
Çʸ§ ÀúÀå ½Ã½ºÅÛ »ý»ê |
Ray-Check
: ¹æ»ç¼± ÈÁú Ç¥½Ã ÀåÄ¡, ÃÊÀ½ÆÄ ¹× ¿Í·ù ½ÃÇèÆí Ãë±Þ
|
R-CON NDT Consultants, Inc. :
ºñÆÄ±«°Ë»ç °ü·Ã Àåºñ ¹× ¼Ò¸ðǰ, ±³À°, ÄÁ¼³ÆÃ ¼ºñ½º
|
R/D Tech : ¿øÀü, ¼®À¯ ÈÇÐ, Ç×°ø¿¡¼ »ç¿ëµÇ´Â
¿Í·ù ¹× ÃÊÀ½ÆÄ °Ë»ç Àåºñ ¸ÞÀÌÄ¿, ÃÖ±Ù Tektrend¸¦ Èí¼öÇÔ
|
Remsco : ¹æ»ç¼± Çʸ§ viewer
|
Rich. Seifert & Co. : ¹æ»ç¼±
°Ë»ç ½Ã½ºÅÛ |
Ritec Inc. : ¹Ì±¹ ·Îµå ¾ÆÀÏ·£µå ÁÖ¿¡ ÀÖ´Â Á¶À½ÆÄ
Àåºñ¸ÞÀÌÄ¿·Î RAM-5000 ½Ã¸®Áî ÇÏÀÌÆÄ¿ö ÃÊÀ½ÆÄ ºÐ¼® ½Ã½ºÅÛ, gated amplifier,
EMAT ¿¬±¸ ¹× °Ë»ç¿ë P/RÀ» »ý»ê
|
Rohmann GmbH : µ¶ÀÏÀÇ ¿Í·ù °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶
ȸ»ç·Î ÈÞ´ë¿ë ¹× ¶óÀÎ °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶
|
Roop Telsonic : Àεµ¿¡ ÀÖ´Â ÃÊÀ½ÆÄ °Ë»ç
Àåºñ Á¦Á¶¾÷ü |
RTD Quality Services: ³×´ú¶õµåÀÇ
ºñÆÄ±« ¿ë¿ª °Ë»ç ¾÷ü |
rtw
ROENTGEN-TECHNIK DR. WARRIKHOFF KG :
¹æ»ç¼± °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶¾÷ü |
Russell NDE Systems : ij³ª´ÙÀÇ ¿Í·ù
°Ë»ç ¿ë¿ª ¾÷ü |
|
|
| S
|
Sattler
Consultants, Inc : ºñÆÄ±« °Ë»ç °ü·Ã ÄÁ¼³ÆÃ
|
ScanMaster Systems : À̽º¶ó¿¤ÀÇ ÃÊÀ½ÆÄ
Àåºñ, ¼¾¼ ¹× ½Ã½ºÅÛ Á¦Á¶¾÷ü |
Scan Systems : ºñÆÄ±« Àåºñ¿¡ »ç¿ëµÇ´Â Àΰø
°áÇÔ Á¦Á¶ |
Second Wave Systems : ºñÁ¢ÃË ÃÊÀ½ÆÄ
ºÐ¼® Àåºñ Ultran»ç¿Í °ü·ÃÀÌ ÀÖÀ½
|
SE Systems, Inc. : ÄÄÇ»ÅÍ ÄÜÆ®·Ñ ¿Í·ù
°Ë»ç Àåºñ |
Sensors & Software Inc. :
·¹ÀÌ´Ù ¹æ½Ä ÁöÇÏ ¸Å¼³¹° ŽÁö ½Ã½ºÅÛ
|
Sherwin Inc. : ¾×ü ħÅõ Ž»ó Á¦Ç°
|
Silverwing.Ltd. : ÃÊÀ½ÆÄ Å©·Ñ·¯ ¹× ÀÚ¼Ó
´©¼³¹ý¿¡ ÀÇÇÑ ÅÊÅ© ¹Ù´Ú °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ »ý»ê
|
SkyScan : °íºÐÇØ´É micro-CT, X-ray
Çö¹Ì°æ, 3Â÷¿ø È»ó ½Ã½ºÅÛ |
SLX,
Inc. : ½ÅÈ£´Â Å©°Ô ÇØÁÖ°í ÀâÀ½Àº ÁÙ¿©ÁÖ´Â ÀâÀ½
¾ïÁ¦ ÀåÄ¡ Á¦Á¶ |
Snell Infrared, Inc. : ¿È»ó °Ë»ç¿¡
°üÇÑ ±³À°, °ËÁ¤ ¹× Áö¿ø |
Socomate International : ÃÊÀ½ÆÄ pluser/receiver
¹× ºÐ¼®¿ë º¸µå »ý»ê |
Sonaspection : ºñÆÄ±« ±³À° ¹× ÀÎÁõ °ü·Ã
°áÇÔ ½ÃÇèÆí µðÀÚÀÎ ¹× Á¦Á¶ |
Sonatest PLC : ÃÊÀ½ÆÄ Ž»ó±â ¹× µÎ²² ÃøÁ¤±â
Á¦Á¶¾÷ü |
Sonotech, Inc. : ÃÊÀ½ÆÄ Ä«Ç÷±Æ® »ý»ê
|
Sonix : ÃÊÀ½ÆÄ ½ºÄ³´× ½Ã½ºÅÛ
|
S.O.S. Software. : ºñÆÄ±« ¹× ºÎ½Ä ºÐ¼®¿¡
°ü·ÃµÈ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î ¹× ÇÁ·Î±×·¥ |
Southwest Research Institute (SwRI) : ÅØ»ç½º »÷¾ÈÅä´Ï¿À¿¡ ÀÖ´Â ¿¬±¸ Àç´ÜÀ¸·Î ºñÆÄ±« °ü·Ã ¿¬±¸ ¹× Àåºñ °³¹ß ¿ë¿ª
|
Spectronics : Àڿܼ± ·¥ÇÁ ¹× °ü·Ã Àåºñ
|
Staveley NDT Technologies : ºñÆÄ±«
°ü·Ã Àåºñ ¹× ¼¾¼ |
StressTel : ÃÊÀ½ÆÄ µÎ²² ÃøÁ¤±â, º¼Æ® Ãà·Â
ÃøÁ¤ ¹× ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î |
Structural Diagnostics, Inc. :
ÃÊÀ½ÆÄ ½ºÄ³´× ½Ã½ºÅÛ ¹× °ü·Ã Àåºñ»ý»ê
|
Structure Scan : ·¹ÀÌ´Ù ÄÜÅ©¸®Æ® ±¸Á¶¹°
°Ë»ç Àåºñ |
|
|
| T
|
Technofour, Inc. (India) : Àεµ¿¡
ÀÖ´Â ¿Í·ù ¹× ±Ý¼Ó °ËÃâ±â |
Tecnatom, S.A. : ½ºÆäÀο¡ ÀÖ´Â ¿øÀü °ü·Ã
°Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶¾÷ü |
TED
: Test Equipment Distributors : ºñÆÄ±« Àåºñ ÆÇ¸Å¾÷ü
|
Teitsu Denshi Kenkusho Company Ltd. :
°¢Á¾ ÃÊÀ½ÆÄ µÎ²² ÃøÁ¤±â¸¦ »ý»ê |
TesTex, Inc : ¿Í·ù °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶¾÷ü, ÅÊÅ©
Àú¸é °Ë»ç Àåºñ |
Test NDT, Ind. : ºñÆÄ±« ±³À° ÇÁ·Î±×·¥ ¿î¿µ
|
Thermal Electron Corporation :
XRF¿¡ ÀÇÇÑ ÈÞ´ë¿ë ÇÕ±Ý ºÐ¼®±â »ý»ê
|
Thermal Wave Imaging, Inc. : ¿È»ó
ºñÆÄ±« °Ë»ç Àåºñ |
TIME Group, Inc. : Áß±¹ÀÇ ÃÊÀ½ÆÄ µÎ²²
ÃøÁ¤±â, °æµµ±â µî Á¦Á¶¾÷ü |
Trilion Quality Systems : ºñÆÄ±«
·¹ÀÌÀú ESPI (µðÁöÅРȦ·Î±×·¡ÇÇ)
|
TruFocus Corporation : ¹æ»ç¼± °Ë»ç¿ë
Æ©ºê Á¦Á¶¾÷ü |
|
|
| U
|
Ultran
Laboratories : »ê¾÷¿ë ¹× ÀÇ·á¿ë ÃÊÀ½ÆÄ ŽÃËÀÚ
|
UniWest
: ¿Í·ù °Ë»ç Àåºñ ¹× º»µå Å×½ºÅÍ |
US
Ultratek, Inc. : ÃÊÀ½ÆÄ P/R, A/D º¸µå
»ý»ê |
UTEX
Scientific Instruments : ij³ª´ÙÀÇ
ÃÊÀ½ÆÄ pulser/receiver, Data Acquisition Software ¹× È»ó ½Ã½ºÅÛ
|
UXR
: ºñÆÄ±« °Ë»ç Àåºñ °ø±Þ¾÷ü |
|
|
| V
|
Vallen-Systeme
GmbH : µ¶ÀÏÀÇ À½Çâ ¹æÃâ °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ Á¦Á¶¾÷ü,
wavelet ¹× dispersion ºÐ¼® ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î¸¦
´Ù¿î ¹ÞÀ» ¼ö ÀÖÀ½
|
Valpey
Fisher : ÃÊÀ½ÆÄ ŽÃËÀÚ, ȾÆÄ ÃÊÀ½ÆÄ ŽÃËÀÚ
|
Varian
: °í Ãâ·Â ¹æ»ç¼± °Ë»ç Àåºñ |
Veritec,
Ltd. : SonomaticÀÇ ÈĽÅÀ¸·Î °¢Á¾ ÃÊÀ½ÆÄ
Àåºñ »ý»ê |
Vermon
(France) : ÇÇ¿¡Á¶ ÄÞÆ÷ÁöÆ® Áøµ¿ÀÚ ¹× ŽÃËÀÚ
Á¦Á¶ |
VJ
Technologies, Inc. : ¹æ»ç¼± °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ
»ý»ê |
Votum
: Åä¸ð±×·¡ÇÁ ÃÊÀ½ÆÄ Ž»ó±â ¹× º»µå Å×½ºÅÍ |
|
|
| W
|
Western
NDE & Engineering, Ltd. : ÃÊÀ½ÆÄ
Ž»ó±â, ÄÚÆÃ µÎ²² ÃøÁ¤±â, ¿ÍÀÌ¾î ·ÎÇÁ Å×½ºÅÍ ÆÇ¸Å
|
| |
| X
|
Xactex
: ÃÊÀ½ÆÄ Ž»ó Àåºñ ¹× ¿Í·ù °Ë»ç¿ë ¼¾¼ Á¦Á¶ |
XiTec
: ÈÞ´ë¿ë ¹æ»ç¼± È»ó ½Ã½ºÅÛ, ÆÄÀÌÇÁ ³»ÀÇ ½ºÄÉÀÏ °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶
|
| |
| Y
|
Yxlon
International : µ¶ÀÏ¿¡ º»»ç¸¦ µÐ ´Ù±¹Àû ±â¾÷À¸·Î
¹æ»ç¼± °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ CT Àåºñ Á¦Á¶ |
| |
| Z
|
Zawada
NDT : Æú¶õµå ȸ»ç·Î ¿ÍÀÌ¾î ·ÎÇÁ Å×½ºÅÍ »ý»ê
|
Zetec
: ¿Í·ù °Ë»ç Àåºñ |